专利名称基于腔损耗的谐振腔背向散射耦合系数测量装置及方法
专利号 201518000481.1 联系人
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申请号201518000481.1IPC分类G01
申请日2015-01-30授权公告日2017-07-28
发明人
专利权人1中国人民解放军国防科学技术大学专利权人1地址
代理人1
法律状态